ZHCSQE8H November 2022 – April 2025 TPS389C03-Q1
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說(shuō)明
- 4 器件比較
- 5 引腳配置和功能
- 6 規(guī)格
- 7 詳細(xì)說(shuō)明
- 8 寄存器映射
- 9 應(yīng)用和實(shí)施
- 10器件和文檔支持
- 11修訂歷史記錄
- 12機(jī)械、封裝和可訂購(gòu)信息
封裝選項(xiàng)
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTE|16
散熱焊盤(pán)機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTE|16
訂購(gòu)信息
7.4.2 TPS389C03-Q1 上電
TPS389C03-Q1 上電時(shí)，可選擇執(zhí)行 BIST（取決于 TEST_CFG.AT_POR 寄存器位）；完成 BIST 并從 OTP 加載配置（由 ECC 提供輔助，支持 SEC-DED）后，I2C 和故障報(bào)告（通過(guò) NIRQ）會(huì)立即變?yōu)榧せ顮顟B(tài)。
配置加載 ECC 和 BIST 結(jié)果的詳細(xì)信息在 TEST_INFO 寄存器中報(bào)告。
檢測(cè)到 VDD 上升沿超過(guò) UVLO 時(shí)，TPS389C03-Q1 將啟動(dòng)序列超時(shí)計(jì)時(shí)器。在序列超時(shí)結(jié)束前，會(huì)屏蔽 UV 故障。
圖 7-31 TPS389C03-Q1 上電信令和內(nèi)部狀態(tài)BIST 完成可通過(guò)中斷或寄存器輪詢來(lái)檢測(cè)：
- 中斷：如果 IEN_TEST.BIST_C=1，會(huì)設(shè)置 INT_TEST.I_BIST_C 標(biāo)志并且 NIRQ 置為有效
- 輪詢：可以輪詢 VMON_STAT 寄存器來(lái)讀取 ST_BIST_C 位