1 特性

• 256 個(gè)通道
• 片上 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)
• 光電二極管抗短路
• 數(shù)據(jù)線（列）抗短路
• 高性能：
  • 噪聲：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC 范圍內(nèi)的 28pF 傳感器電容器
  • 積分非線性：
    內(nèi)部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
  • 最小掃描時(shí)間：
    • 正常模式下為 37.9µs
    • 2x 雙像素模式下為 20µs
• 集成：
  • 8 個(gè)可選滿量程范圍：
    0.15pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
  • 內(nèi)置相關(guān)雙采樣器
  • 針對(duì)更快速數(shù)據(jù)吞吐量的 2x 雙像素模式（兩個(gè)相鄰?fù)ǖ赖钠骄潆姡?/li>
  • 管道式積分和讀取：積分期間允許數(shù)據(jù)讀取
• 靈活性：
  • 電子和空穴積分
• 低功耗：
  • 具有 ADC 時(shí)，每通道 2.9mW
  • 無(wú) ADC 時(shí)，每通道 2.3mW
  • 打盹模式時(shí)，每通道 0.1mW
  • 總斷電特性
• 22mm x 5mm 凸出式金屬接點(diǎn)芯片，
  適用于帶載封裝 (TCP) 和 覆晶薄膜封裝 (COF)

2 應(yīng)用范圍

平板 X 射線檢測(cè)器

3 說明

AFE1256 是一款 256 個(gè)通道模擬前端 (AFE)，此器件被設(shè)計(jì)成滿足基于平板檢測(cè)器 (FPD) 的數(shù)字 X 射線系統(tǒng)的的要求。此器件包括 256 個(gè)積分器，一個(gè)用于滿量程充電電平選擇的可編程增益放大器 (PGA)，一個(gè)具有雙組的相交雙采樣器 (CDS)，256:4 模擬復(fù)用器和四個(gè)板載 16 位，逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。ADC 提供格式為 SPI™的串行數(shù)據(jù)。

硬件可選積分極性可實(shí)現(xiàn)正或負(fù)電荷積分，并在系統(tǒng)設(shè)計(jì)中提供更多的靈活性。此打盹特性大大節(jié)省了能耗。這一節(jié)電特性特別適合于電池供電類系統(tǒng)。

該器件可以 22mm × 5mm 凸出式金屬接點(diǎn)芯片形式提供，也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封裝。

如需完整數(shù)據(jù)表或其他設(shè)計(jì)資源，請(qǐng)點(diǎn)擊：請(qǐng)求獲取 AFE1256

1. 要了解所有可用封裝，請(qǐng)參見數(shù)據(jù)表末尾的封裝選項(xiàng)附錄。
2. 產(chǎn)品預(yù)覽器件。

空白

AFE1256 電路原理圖