ZHCSDV6E May 2009 – July 2015 LM57
PRODUCTION DATA.
LM57 器件是一款具有模擬溫度傳感器輸出的精密雙路輸出溫度開關(guān),適用于寬溫度范圍的工業(yè)級應(yīng)用。 跳變溫度 (TTRIP) 可從 –40°C 至 150°C 溫度范圍內(nèi)的 256 種可能值中進(jìn)行選擇。VTEMP 是 AB 類模擬電壓輸出,該電壓輸出與溫度成正比,負(fù)溫度系數(shù) (NTC) 可編程。 兩個外部 1% 電阻設(shè)置 TTRIP 和 VTEMP 斜率。 數(shù)字和模擬輸出具有保護(hù)功能,并且可監(jiān)視系統(tǒng)過熱事件。
內(nèi)置的熱滯后功能 (THYST) 可防止數(shù)字輸出發(fā)生振蕩。 TOVER 和 TOVER 數(shù)字輸出將在芯片溫度超過 TTRIP 時(shí)置為有效,在芯片溫度低于 TTRIP 與 THYST 的差值時(shí)置為無效。
TOVER 為高電平有效,并且采用推挽結(jié)構(gòu)。 TOVER 為低電平有效,并且采用開漏結(jié)構(gòu)。 將 TOVER 與 TRIP-TEST 相連,可在輸出發(fā)生跳變后將其鎖存。 將 TRIP-TEST 強(qiáng)制為低電平可將輸出清零。 將 TRIP-TEST 驅(qū)動為高電平會將數(shù)字輸出置為有效。 處理器可檢查 TOVER 或 TOVER 的狀態(tài),從而確認(rèn)它們是否已切換至激活狀態(tài)。 這樣一來,便可以在系統(tǒng)裝配后現(xiàn)場驗(yàn)證比較器和輸出電路的功能。 當(dāng) TRIP-TEST 為高電平時(shí),VTEMP 引腳為跳變基準(zhǔn)電壓。 系統(tǒng)隨后可使用該電壓計(jì)算 LM57
| 器件型號 | 封裝 | 封裝尺寸(標(biāo)稱值) |
|---|---|---|
| LM57BISD | WSON (8) | 2.50mm × 2.50mm |
| LM57FPW | TSSOP (8) | 3.00mm × 6.40mm |

