ZHCAC14 January   2023 DP83TC812R-Q1 , DP83TC812S-Q1

1.   摘要
2. 1引言
   1. 1.1 首字母縮寫詞
3. 2TC10 測試設(shè)置
   1. 2.1 概述
   2. 2.2 喚醒至鏈接序列
4. 3測量摘要
   1. 3.1 完整時序圖
   2. 3.2 測量摘要
   3. 3.3 LP1 喚醒至鏈接時間
5. 4時序測量
   1. 4.1 LP1 WAKE 至 INH (T1)
   2. 4.2 LP1 INH 至 WUP (T2)
   3. 4.3 WUP 至 PHY INH (T3)
   4. 4.4 PHY INH/降壓 EN 至降壓 nRESET (T4)
   5. 4.5 降壓 nRESET/PMIC 使能至 MCU nReset (T5)
   6. 4.6 MCU nReset 至 MDIO 通信（T6 和 T7）
   7. 4.7 MDIO 主器件配置 + 鏈接（T8 和 T9）
6. 5測量評估
   1. 5.1 關(guān)于優(yōu)化可變 TC10 時間的建議
      1. 5.1.1 縮短 MCU 啟動時間 (T6)
      2. 5.1.2 改進 MDIO 狀態(tài)機 (T7)
      3. 5.1.3 優(yōu)化 MDIO 時間表 (T8)
         1. 5.1.3.1 通過去除輪詢來優(yōu)化主器件配置
         2. 5.1.3.2 通過改進 MDC 來優(yōu)化主器件配置
      4. 5.1.4 睡眠期間的 PHY 配置
      5. 5.1.5 其他可配置的值
   2. 5.2 替代 TC10 測試
7. 6結(jié)論
8. 7參考文獻